一、一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：
 

　　1.入射狹縫:在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。
 

　　2.準直元件:使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
 

　　3.色散元件:通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
 

　　4.聚焦元件:聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。
 

　　5.探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
 

　　二、分類：
 

　　真空紫外(遠紫外)光譜儀(6~200nm)
 

　　紫外光譜儀(185~400nm)
 

　　可見光光譜儀(380~780nm)
 

　　近紅外光譜儀(780nm~2.5um)
 

　　紅外光譜儀(2.5~50um)
 

　　遠紅外光譜儀(50um~1mm)
 

　　三、測定方法：光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現這些測量沒有任何困難。測量通過第一個單色儀的光通量，緊接著測量通過兩個單色儀的光通量，以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。